Практическая химия белка - А. Дарбре 1989

Рентгеновская кристаллография и электронная микроскопия
Электронная микроскопия
Технические проблемы

Поскольку изображения молекул возникают в результате их взаимодействия с электронами, можно ожидать, что присутствие любых посторонних атомов будет приводить к снижению качества изображения. Поэтому внутри колонны микроскопа создается вакуум. В этих условиях помещенный в микроскоп образец будет неизбежно подвергаться дегидратации. Ниже рассмотрены методы, позволяющие избежать изменений структуры исследуемых образцов при их дегидратации.

Другой нежелательный эффект возникает из-за взаимодействия электронов с самим образцом. Он обусловлен не только разрушающим действием электронов высоких энергий, но и возникновением высокореакционноспособных химических радикалов, что приводит к загрязнению образца при его микроскопировании. Влияние химических радикалов может быть снижено размещением вблизи образца медной диафрагмы, охлажденной до температуры жидкого азота, которая сорбирует на своей поверхности загрязняющие образец частицы. Разрушающее действие собственно электронов может быть уменьшено только снижением дозы облучения. Более подробно это рассмотрено в разделе, посвященном молекулярной микроскопии.

Влияние эффектов дегидратации, загрязнения и радиационного повреждения может быть уменьшено «окрашиванием» образцов солями тяжелых металлов. Такое окрашивание проводят перед высушиванием образца, и связавшийся с ним «краситель» значительно менее чувствителен к действию дегидратации и электронной бомбардировке, чем легкие атомы, образующие объект. Кроме того, соли тяжелых металлов обладают значительно большей электронной плотностью, что уменьшает влияние загрязнений на качество изображения. Однако и в этом случае необходимо добиваться максимальной чистоты внутренних элементов конструкции микроскопа и поддерживающих образец медных сеточек, а также применять различные технические средства, позволяющие уменьшить дозу облучения образца.